|
Центр колективного користування приладами (ЦККП) "TEM-SCAN" НАН України було створено в жовтні 2006 року на базі Лабораторії електронно-зондового мікроаналізу Інституту проблем матеріалознавства НАН України з метою найбільш раціонального використання наукових приладів імпортного виробництва фірми JEOL (Японія): JEM-2100F, JEM-100СХ II, Superprobe 733, JAMP-10S (2 прилади), T-20.
Головним завданням Центру "TEM-SCAN" є надання науковцям НАН України можливості проводити дослідження на приладах сучасного рівня, які обслуговується кваліфікованим персоналом, здатним підтримувати обладнання у високоякісному робочому стані та надавати консультативні послуги.
Наказом Директора ІПМ НАН України керівником Центру "TEM-SCAN" призначений академік НАН України С.О.Фірстов.
|
|
|
