Інститута проблем матеріалознавства ім.І.М.Францевича НАН України
Обладнання Центру "TEM-SCAN"
В якості обладнання Центру "TEM-SCAN" НАН України пропонується використання наукових приладів імпортного виробництва фірми JEOL (Японія): JEM-2100F, JEM-100СХ II, Superprobe 733, JAMP-10S (2 прилади), T-20.
