Інститута проблем матеріалознавства ім.І.М.Францевича НАН України

Обладнання Центру "TEM-SCAN"

В якості обладнання Центру "TEM-SCAN" НАН України пропонується використання наукових приладів імпортного виробництва фірми JEOL (Японія): JEM-2100F, JEM-100СХ II, Superprobe 733, JAMP-10S (2 прилади), T-20.

Технічні характеристики приладів >>

Більш детальна інформація про прилад JEM-2100F в форматі Adobe Acrobat у файлі JEM-2100F.pdf

Головна || Обладнання Центру|| Контакти||