ВИЗНАЧЕННЯ РОЗМІРІВ НАНОСТРУКТУРНИХ ЕЛЕМЕНТІВ В ГРАНУЛЬОВАНИХ КОМПОЗИЦІЙНИХ ПЛІВКАХ ПРОВОДНИК–ДІЕЛЕКТРИК: РОЗРАХУНОК ТА АТОМНА СИЛОВА МІКРОСКОПІЯ

Б.М.Рудь,
  

Інститут проблем матеріалознавства ім. І. М. Францевича НАН України , вул. Омеляна Пріцака, 3, Київ, 03142, Україна
Порошкова металургія - Київ: ІПМ ім.І.М.Францевича НАН України, 2015, #01/02
http://www.materials.kiev.ua/article/1885

Анотація

Досліджено гранульовані композиційні плівки на основі ВаВ6–LaB6, Sn0,9Sb0,1O2 та алюмоборосилікатного скла, виготовлені методом трафаретного друку із наступною термообробкою. Для визначення товщини нанорозмірних діелектричних прошарків між частинками струмопровідної фази, що визначають механізм електропровідності й властивості плівок, використано оригінальний розрахунковий метод. Для оцінки достовірності отриманих результатів плівкові структури вивчено методом атомної силової мікроскопії. Розрахункові дані знаходяться у добрій відповідності з експериментом. Метод може бути використаний при дослідженні структури та властивостей нових композиційних матеріалів провідник–діелектрик.


АТОМНА СИЛОВА МІКРОСКОПІЯ, ДІЕЛЕКТРИЧНИЙ ПРОШАРОК, ПЛІВКA, РОЗРАХУНОК, СТРУМОПРОВІДНА ФАЗА