Конференції

Корреляція значень фрактальних характеристик структури матеріалу по електронно-мікроскопічним фотографіям поверхні зразків зі значеннями їх фізико-механічних характеристик

   

Інститут проблем матеріалознавства ім. І. М. Францевича НАН України , вул. Кржижановського 3, Київ, 03142, Україна
Електронна мікроскопія і міцність матеріалів - Київ: ІПМ ім.І.М.Францевича НАН України, 2016, #22
http://www.materials.kiev.ua/article/2286

Анотація

На основі методів мультифрактального формалізму побудовано алгоритм визначення фрактальних характеристик двовимірних зображень структур матеріалів. Наведено інтерфейс користувача комп’ютерної програми для визначення цих характеристик. Проведено обробку зображень структури матеріалів; отримані фрактальні характеристики структури різних матеріалів демонструють наявність кореляції з їх фізичними властивостями. Повний текст


ЕЛЕКТРОННА МІКРОСКОПІЯ, МІЦНІСТЬ, МУЛЬТИФРАКТАЛЬНIСТЬ, ОБРОБКА ЗОБРАЖЕНЬ, ТВЕРДІСТЬ