Використання програмного комплексу АМІС для кількісної металографії

  

Інститут проблем матеріалознавства ім. І. М. Францевича НАН України , вул. Омеляна Пріцака, 3, Київ, 03142, Україна
Математичні моделі і обчислювальний експеримент в матеріалознавстві - Київ: ІПМ ім.І.М.Францевича НАН України, 2014, #16
http://www.materials.kiev.ua/article/816

Анотація

Розглянуто основні принципи та застосування авторської програми аналізу цифрових зображень АМІС. Показано широкі можливості цієї програми для отримання і аналізу кількісних геометричних характеристик мікроструктури порошкових матеріалів та надано приклади задач, розв’язаних завдяки використанню запропонованої програми.


АНАЛІЗ ЗОБРАЖЕННЯ, КІЛЬКІСНА МЕТАЛОГРАФІЯ, МІКРОСТРУКТУРА МАТЕРІАЛУ, СТЕРЕОЛОГІЯ