Спектроскопія плазми електродугового розряду між композитними електродами Ag–CuO

І.Л.Бабіч,
 
В.Ф.Борецький,
 
А.М.Веклич,
 
А.І.Іванісік,
 
Р.В.Семенишин,
 
Л.О.Крячко,
  

Інститут проблем матеріалознавства ім. І. М. Францевича НАН України , вул. Омеляна Пріцака, 3, Київ, 03142, Україна
Електричні контакти та електроди - Київ: ІПМ ім.І.М.Францевича НАН України, 2010, #10
http://www.materials.kiev.ua/article/465

Анотація

Методами оптичної емісійної спектроскопії отримано просторові профілі температури та електронної концентрації в плазмі електричної дуги між електродами з композиційного матеріалу Ag – CuO. Для цього попередньо виконано селекцію спектральних ліній CuI та AgI та значень їх спектроскопічних констант. В припущенні наявності в плазмі локальної термодинамічної рівноваги на основі експериментально отриманих результатів розраховано концентрації парів металів в плазмі. Для перевірки одержаних результатів методом лінійної лазерної абсорбційної спектроскопії отримано просторові профілі заселеності рівня 2D5/2 та концентрації атома міді в розрядному проміжку. Металографічні дослідження робочого шару на поверхні електродів показали зміну механізмів електричної ерозії електродного матеріалу при збільшенні струму до 30 А.


КОМПОЗИЦІЙНІ ЕЛЕКТРОДИ AG–CUO, ПЛАЗМА ДУГОВОГО РОЗРЯДУ, СПЕКТРОСКОПІЧНІ КОНСТАНТИ