Sections
Personal tools

Наші Координати: Україна, 03142, м.Київ, вул. Кржижановського, 3 | тел: +380(44)390-87-51, +380(44)390-87-57 | факс: +380(44)390-87-51

Застосування методу Рітвельда для аналізу дифрактометричних даних при високотемпературному ”іn – situ” дослідженні

Карпець М.В.


Посилання: http://www.materials.kiev.ua/article/218

Розглянуто основні систематичні похибки при високотемпературному дифракційному експерименті які впливають на точність визначення положення та інтенсивностей рентгенівських максимумів. Для врахування розглянутих факторів запропоновано використання методу повнопрофільного аналізу. З цією метою створено пакет програм для апроксимації дифракційних картин з уточненням методом прямого пошуку.


Математичні моделі і обчислювальний експеримент в матеріалознавстві - Київ: ІПМ ім.І.М.Францевича НАН України, 2008 , #10 , C.43


Українське матеріалознавче товариство Українська технологічна платформа Штаб Цивільного Захисту НАН України Базовий координаційний центр УНГ Офіційний Web-портал Верховної Ради України Курсы валют Перевод онлайн