Застосування методу Рітвельда для аналізу дифрактометричних даних при високотемпературному ”іn – situ” дослідженні

 

Інститут проблем матеріалознавства ім. І. М. Францевича НАН України , вул. Кржижановського 3, Київ, 03142, Україна
Математичні моделі і обчислювальний експеримент в матеріалознавстві - Київ: ІПМ ім.І.М.Францевича НАН України, 2008, #10
http://www.materials.kiev.ua/article/218

Анотація

Розглянуто основні систематичні похибки при високотемпературному дифракційному експерименті які впливають на точність визначення положення та інтенсивностей рентгенівських максимумів. Для врахування розглянутих факторів запропоновано використання методу повнопрофільного аналізу. З цією метою створено пакет програм для апроксимації дифракційних картин з уточненням методом прямого пошуку.